리브 경도계에 대해서

리브 경도계에 대해서리바운드(리브)식 경도계(에코칩 경도계)

리바운드식 경도계는 1978년에 미국의 리브 박사가 발견한 경도 측정 원리에 근거한 경도계입니다.

리브 경도계나 에코칩 경도계라고도 하며, 사용하기 쉽고 저렴한 가격 때문에 급속히 보급되고 있습니다.

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측정 원리

리바운드식 경도계는 임팩트 디바이스라고 불리는 센서부를 측정 부분에 접촉시켜 경도를 측정합니다.

임팩트 디바이스의 내부에는 텅스텐 카바이드로 된 칩이 내장되어 있습니다.

임팩트 디바이스 내부의 칩을 측정 대상물 표면에 낙하시키면 낙하한 칩은 측정물 표면에서 튕겨 나옵니다.

리바운드식 경도계는 이 칩의 낙하 시와 튕겨 나올 때 속도에 따라 발생하는 유도 전압을 임팩트 디바이스가 감지하여 경도를 산출합니다.

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리브(Leeb) 경도 방정식은 다음과 같습니다.

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HL=(vb/va)*1000

HL: 경도 수치, Vb: 튕김 속도, Va: 충격 속도

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임팩트 디바이스

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D타입 폭넓은 용도로 사용할 수 있는 표준 임팩트 디바이스

C타입 가볍고 작은 물건과 경화층 표면의 경도 측정에 적합한 임팩트 디바이스

DC 타입 전장이 짧아 기계 내부나 실린더, 배관 안쪽 등 세로 폭이 좁은 장소에 적합한 임 팩트 디바이스

DL 타입 선단 지름이 좁고 좁은 곳의 경도 측정에 적합한 임팩트 디바이스

G타입 주조품, 단조품 등의 표면이 거친 금속용 임팩트 디바이스

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측정물(시험체)에 대해서

리바운드식 경도계는 쉽게 경도를 측정할 수 있지만 모든 형상, 무게의 금속을 측정할 수 있는 것은 아닙니다.

여기에서는 리바운드식 경도계로 측정 가능한 측정물이나 측정 시의 주의점에 대해 설명하겠습니다.

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1. 표면 거칠기

측정물의 표면이 거칠면 오차가 커져 경우에 따라서는 측정할 수 없는 경우도 있습니다.

임팩트 디바이스별 적절한 표면 거칠기는 다음과 같습니다.

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임팩트 디바이스 최대 표면 거칠기(Ra)

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D, DC 3.2

G 7

C 0.4

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2) 중량 두께

측정물의 중량이 가벼울 경우에는 평탄하고 무게가 있는 정반과 같은 튼튼한 받침대(지지대)를 마련하고 그 후에 측정합니다.

경우에 따라서는 지지대와 측정물 사이에 미량의 구리스 또는 고점도 기름을 도포하여 밀착해야 합니다.

또한 측정물의 두께가 얇은 경우에도 올바른 두께를 얻을 수 없게 됩니다.

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인펙트 디바이스 지지대와 고정 지지대로 유지 지지대 불필요 최소두께(mm)

D、DC 0.05～2kg 2～5kg >5 kg 10

G 0.5～5kg 5～15kg >15 kg 10

C 0.02～0.5kg 0.5～1.5kg >1.5kg 10

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3. 경화층

극히 얕은 표층의 경도 측정은 올바른 값을 얻을 수 없을 가능성이 있습니다.

측정 가능한 경화 깊이는 다음과 같이 되어 있습니다.

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임팩트 디바이스 최소 경화 깊이(mm)

D、DC 0.8

C 0.2

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4. 잔류 자기

측정물에 잔류자기가 있으면 장치의 센서에 영향을 주어 측정 정밀도가 악화됩니다.

반드시 탈자를 한 후에 측정해 주십시오.

또, 측정중은 강한 자기를 회피해 주세요.

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5.기타

측정물이 대형판, 장방, 굽은 경우, 비록 중량이나 두께가 조건에 맞더라도 충격력에 의해 샘플이 구부러져 측정 에러가 날 수 있습니다.

충격이 가해지는 반대면(뒷면)을 보강해 주십시오.

곡률 반경이 R30 이하인 경우는 측정 시에 서포트 링(어댑터)을 사용해 주십시오.

측정물의 온도는 80°C 이하로 해 주십시오.

 

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