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표면 산란 광법에 대해서
측정 액면에 빛을 비춰 그 액면으로부터의 산란광을 측정하여 그 산란 강도가 액중의 현탁물질의 농도에 비례하는 것을 이용해 탁도를 아는 방식이다.
이 방식은 투과광 방식과 달리 측정액에 접하는 창문이 없어 창문의 오염에 따른 오차 발생이 없다는 특징이 있다.
착색액의 영향도 표층부의 산란을 측정함으로써 실용상 지장이 되지 않을 정도로 감소시킬 수 있으며 연속측정용인 것이 개발되어 널리 사용되고 있다.
실제 계측기에서는 광원램프의 열화의 영향을 없애는 회로의 채용, 오차 원인이 되는 액중의 거품 제거 및 미광 방지 등 다양한 대책이 취해져 실용에 쓰이고 있다.
위 그림 , 표면 산란 광법에 의한 탁도 계측기의 예를 나타낸다.
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