미립자 카운트법에 대해서

미립자 카운트법에 대해서

반도체 레이저를 이용하여 미립자를 검출하는 방식으로, 미립자수가 적은 저탁도(2도 이하) 의 측정액에 적합하다.광빔을 측정액에 조사하면 미립자에 의해 빛은 산란된다.

전방 산란광을 집광하여 전기 신호로 변환하면 미립자 입경에 대응하는 파고값을 가진 펄스 신호가 관측된다.

펄스수는 측정액의 미립자 개수 농도에 비례한다.

파고값을 N 구분하고, 입경 구분별 미립자 개수 농도(n)를 측정한다.

평균 산란 단면적(C)을 곱해 탁도(D)를 연산한다.

D ＝Σ niCi　（i ＝ 1 ～ N）

이 방식은 탁도와 미립자 개수 농도를 측정할 수 있으며 0점 교정이 필요 없는 이점이 있어 널리 저탁도 측정에 사용되고 있다.

https://www.smartinst.co.kr/